原標題：新技術一次性查出胚胎內(nèi)基因變異

瑞典卡羅林斯卡學院和荷蘭馬斯特里赫特大學科學家攜手，成功開發(fā)出一種新檢測技術，能在單次檢測中精準篩查出胚胎內(nèi)所有已知的基因變異。與現(xiàn)有檢測方法相比，該技術更準確快捷，為那些有遺傳疾病的父母誕下健康寶寶帶來可能。相關論文發(fā)表于最近的《自然·通訊》雜志。

有些準父母可能誕下罹患嚴重遺傳病的嬰兒，或因染色體異常而反復流產(chǎn)。因此，他們會選擇進行植入前基因檢測（PGT）。PGT會篩查胚胎內(nèi)已知的基因異常，醫(yī)生隨后將無異常的胚胎植入母親子宮內(nèi)。但現(xiàn)有技術只能檢查胚胎遺傳信息的特定部分，而基因變異可能發(fā)生在不同地方。因此，準父母們需要接受不同檢測，以篩查不同類型的基因變異。

研究人員新開發(fā)出的檢測技術能一次分析胚胎的整個基因組，包括所有基因和染色體，更快、更有效地檢測出已知的基因變異。這一創(chuàng)新不僅極大提高了基因檢測的準確性和效率，也意味著無需為每種疾病開發(fā)測試方法。而且，新技術還能檢測出線粒體DNA中的特定基因變異。

研究團隊表示，除了能更完整地揭示整個胚胎的基因異常外，新技術甚至可以揭示遺傳物質(zhì)內(nèi)最小的錯誤，準確率高達99%以上。

（記者 劉霞）